| |
| Issue |
Title |
| |
| No 8 (2013) |
Основные физические эффекты, влияющие на формирование неопределенности измерений параметров рельефа поверхностив нанометровом диапазоне размеров |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , |
| |
| No 8 (2013) |
Специфика формирования неопределенности измерений геометрических параметров рельефа поверхности методами интерферометрии высокого разрешения |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , , , , |
| |
| No 8 (2013) |
Анализ методов сверхразрешения в оптической интерференционной микроскопии |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , , , |
| |
| No 8 (2013) |
Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями интерферометрии параметров рельефа и формы поверхности. |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , , , , |
| |
| No 4 (2017) |
Калибровка рельефных мер нанометрового диапазона с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
Abstract
|
|
|
| |
| No 2 (2013) |
Специфика измерительных задач при анализе рельефа поверхностей в нанометровом диапазоне линейно-угловых размеров |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , , , |
| |
| No 2 (2013) |
Фрактальные методы характеризации топографии и текстуры поверхности |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , |
| |
| No 2 (2013) |
Топологические параметры текстуры функциональных поверхностей |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , |
| |
| No 2 (2013) |
Ареальные методы анализа топографии и текстуры поверхности в микронанометровом диапазонах |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , , |
| |
| No 9 (2012) |
Нелинейность развертки растрового электронного микроскопа |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , , , , |
| |
| No 2 (2013) |
Методология характеризации рельефа 3D-поверхности по ее профильным и топографическим параметрам в нанометровом диапазоне |
Abstract
PDF (Rus)
|
|
, , , , |
| |
| No 2 (2019) |
Conditions of measurement of protrusion linewidth by scanning and transmission microscopes in a range of less 50 nanometers |
Abstract
|
|
Yu. V. Larionov |
| |
| 1 - 12 of 12 Items |
|
