Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями интерферометрии параметров рельефа и формы поверхности.
Аннотация
Об авторах
Д. А. НовиковРоссия
С. А. Кононогов
Россия
С. Ю. Золотаревский
Россия
Г. Н. Вишняков
Россия
А. С. Гусев
Россия
Г. Г. Левин
Россия
В. Л. Лясковский
Россия
Список литературы
1. Вишняков Г. Н. и др. Методы автоматизации обработки интерферограмм фазовых объектов // Метрология. №4 2008, С. 15–25.
2. Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: Учебное пособие / Под ред. В. Н. Крутикова. М.: Логос, 2011.
3. ГОСТ Р 8.743–2011. ГСИ. Оптика и фотоника. Интерференционные измерения оптических элементов и систем. Часть 1. Термины, определения и основные соотношения.
4. Leach R. K. Fundamental principles of engineеring nanometrology. N. Y.: Elsevier Science & Technology, 2010.
5. Dotson С. Fundamentals of dimensional metrology. N.Y.: Delmar Learning, 2006.
6. ГОСТ Р 8.629–2007 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки.
7. ГОСТ Р 8.596-2002. Метрологическое обеспечение измерительных систем. Основные положения.
8. Кононогов С. А., Голубев С. С., Лысенко В. Г. Исследование измерительных и калибровочных возможностей средств измерений нанометрового диапазона // Законодательная и прикладная метрология. 2008. № 3. С. 19–26.
Рецензия
Для цитирования:
Новиков Д.А., Кононогов С.А., Золотаревский С.Ю., Вишняков Г.Н., Гусев А.С., Левин Г.Г., Лясковский В.Л. Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями интерферометрии параметров рельефа и формы поверхности. Метрология. 2013;(8):31-37.