Preview

Метрология

Расширенный поиск

Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями интерферометрии параметров рельефа и формы поверхности.

Аннотация

Приведены результаты анализа методических и инструментальных погрешностей, неизбежно возникающих при измерении параметров рельефа и формы поверхности методами 3D-интерферометрии с опорным волновым фронтом и интерферометрии бокового сдвига. Отмечено, что наибольший вклад в суммарную методическую погрешность вносят погрешности измерений текущих порядков интерференции, погрешности измерения текущих координат и сдвига пренебрежимо малы. Показано, что суммарная погрешность метода приближенного интегрирования связана с погрешностью интерполяции и зависит от состояния формы поверхности.

Об авторах

Д. А. Новиков
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы
Россия


С. А. Кононогов
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы
Россия


С. Ю. Золотаревский
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы
Россия


Г. Н. Вишняков
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерениЙ
Россия


А. С. Гусев
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерениЙ
Россия


Г. Г. Левин
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерениЙ
Россия


В. Л. Лясковский
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


Список литературы

1. Вишняков Г. Н. и др. Методы автоматизации обработки интерферограмм фазовых объектов // Метрология. №4 2008, С. 15–25.

2. Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: Учебное пособие / Под ред. В. Н. Крутикова. М.: Логос, 2011.

3. ГОСТ Р 8.743–2011. ГСИ. Оптика и фотоника. Интерференционные измерения оптических элементов и систем. Часть 1. Термины, определения и основные соотношения.

4. Leach R. K. Fundamental principles of engineеring nanometrology. N. Y.: Elsevier Science & Technology, 2010.

5. Dotson С. Fundamentals of dimensional metrology. N.Y.: Delmar Learning, 2006.

6. ГОСТ Р 8.629–2007 ГСИ. Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки.

7. ГОСТ Р 8.596-2002. Метрологическое обеспечение измерительных систем. Основные положения.

8. Кононогов С. А., Голубев С. С., Лысенко В. Г. Исследование измерительных и калибровочных возможностей средств измерений нанометрового диапазона // Законодательная и прикладная метрология. 2008. № 3. С. 19–26.


Рецензия

Для цитирования:


Новиков Д.А., Кононогов С.А., Золотаревский С.Ю., Вишняков Г.Н., Гусев А.С., Левин Г.Г., Лясковский В.Л. Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями интерферометрии параметров рельефа и формы поверхности. Метрология. 2013;(8):31-37.

Просмотров: 49


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0132-4713 (Print)
ISSN 2712-9071 (Online)