Для цитирования:

Булыгин Ф.В., Золотаревский С.Ю., Кононогов С.А., Илюшин Я.А., Левин Г.Г., Лясковский Л. Анализ методов сверхразрешения в оптической интерференционной микроскопии. Метрология. 2013;(8):22-30.