Топологические параметры текстуры функциональных поверхностей
Аннотация
Рассмотрен процесс характеризации топологических признаков, включающий в себя пять стадий (шагов). Показано дерево изменений, отображающее соотношения между контурными линиями на поверхности. Приведена статистическая обработка признаков существенных топологических параметров, сводящаяся к построению гистограммы количественных значений (или числа) признаков.
Об авторах
В. Н. Крутиков
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Россия
Россия
С. Ю. Золотаревский
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы, Москва
Россия
Россия
В. Г. Лысенко
Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы, Москва
Россия
Россия
В. Л. Лясковский
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений, Москва
Россия
Россия
Список литературы
1. De Chiffre L. e. a. Quantitative characterization of surface texture //Ann. CIRP. 2000. V. 49. P. 635 – 652.
2. ISO/DIS 25178:2008. Geometrical product specification (GPS) –Surface texture: Areal – Pt. 6: Classification of methods for measuring surface texture (International Organization for Standardization).
3. Juodzbalys G. e. a. Titanium dental implant surface micromorphology optimization //Oral Implant. 2007. V. 33. P. 177 – 185.
4. Mandelbrot В. В. Fractals: form, chance and dimension. San Francisco (USA): WH Freeman, 1977.
5. Shepard M. K., Brackett R. A., Arvidson R.E. 195 Self-affine (fractal) topography: surface parameterization and radar scattering //Geophys. Res. 1995. V. 100. P. 11709 – 11718.
Рецензия
Для цитирования:
Крутиков В.Н., Золотаревский С.Ю., Лысенко В.Г., Лясковский В.Л. Топологические параметры текстуры функциональных поверхностей. Метрология. 2013;(2):25-32.
Просмотров:
27
