Preview

Метрология

Расширенный поиск

Информация о разделе


НАНОМЕТРОЛОГИЯ

 
Выпуск Название
 
№ 8 (2013) Основные физические эффекты, влияющие на формирование неопределенности измерений параметров рельефа поверхностив нанометровом диапазоне размеров Аннотация   PDF (Rus)
С. А. Кононогов, С. Ю. Золотаревский, В. Г. Лысенко, В. Л. Лясковский
 
№ 8 (2013) Специфика формирования неопределенности измерений геометрических параметров рельефа поверхности методами интерферометрии высокого разрешения Аннотация   PDF (Rus)
С. Ю. Золотаревский, С. А. Кононогов, В. Г. Лысенко, Г. Г. Левин, В. Л. Лясковский, А. С. Гусев, С. С. Голубев
 
№ 8 (2013) Анализ методов сверхразрешения в оптической интерференционной микроскопии Аннотация   PDF (Rus)
Ф. В. Булыгин, С. Ю. Золотаревский, С. А. Кононогов, Я. А. Илюшин, Г. Г. Левин, Л. . Лясковский
 
№ 8 (2013) Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями интерферометрии параметров рельефа и формы поверхности. Аннотация   PDF (Rus)
Д. А. Новиков, С. А. Кононогов, С. Ю. Золотаревский, Г. Н. Вишняков, А. С. Гусев, Г. Г. Левин, В. Л. Лясковский
 
№ 4 (2017) Калибровка рельефных мер нанометрового диапазона с помощью просвечивающего электронного микроскопа Аннотация
Ю. В. Ларионов
 
№ 2 (2013) Специфика измерительных задач при анализе рельефа поверхностей в нанометровом диапазоне линейно-угловых размеров Аннотация   PDF (Rus)
С. Ю. Золотаревский, В. Г. Лысенко, Н. А. Табачникова, Ф. В. Булыгин, А. С. Гусев, В. Л. Лясковский
 
№ 2 (2013) Фрактальные методы характеризации топографии и текстуры поверхности Аннотация   PDF (Rus)
С. Ю. Золотаревский, Д. А. Новиков, А. С. Гусев, В. Л. Лясковский
 
№ 2 (2013) Топологические параметры текстуры функциональных поверхностей Аннотация   PDF (Rus)
В. Н. Крутиков, С. Ю. Золотаревский, В. Г. Лысенко, В. Л. Лясковский
 
№ 2 (2013) Ареальные методы анализа топографии и текстуры поверхности в микронанометровом диапазонах Аннотация   PDF (Rus)
С. А. Кононогов, С. Ю. Золотаревский, Ф. В. Булыгин, В. Н. Крутиков, В. Л. Лясковский
 
№ 9 (2012) Нелинейность развертки растрового электронного микроскопа Аннотация   PDF (Rus)
В. В. Альзоба, В. П. Гавриленко, А. Ю. Кузин, В. Б. Митюхляев, А. В. Раков, П. А. Тодуа, М. Н. Филиппов
 
№ 2 (2013) Методология характеризации рельефа 3D-поверхности по ее профильным и топографическим параметрам в нанометровом диапазоне Аннотация   PDF (Rus)
С. Ю. Золотаревский, С. А. Кононогов, В. Г. Лысенко, Н. А. Табачникова, Г. Г. Левин
 
№ 2 (2019) Условия измерений ширины выступа растровым и просвечивающим электронными микроскопами в диапазоне менее 50 нм Аннотация
Ю. В. Ларионов
 
1 - 12 из 12 результатов