Предложен обобщённый метод оценки неопределённости косвенных измерений. Показано, как от нормирования предела допускаемой погрешности средства измерений при известной нелинейности перейти к пределам допускаемых аддитивной и мультипликативной погрешностей. Даны примеры снижения неопределённости косвенных измерений в результате правильного выбора структурной схемы, пределов измерений и способов нормирования.

Рассмотрен метод калибровки меры ширины нанометрового диапазона по периоду решётки атомов кремния с использованием просвечивающего электронного микроскопа. Выявлено, что несколько геометрических параметров, характеризующих профиль выступа на изображении, полученном с помощью просвечивающего электронного микроскопа, вносят вклад в неопределённость измерения ширины, как единственного контролируемого параметра (а также в разницу значений ширины, полученных с помощью просвечивающего и растрового электронных микроскопов в диапазоне значений порядка 10 нм). Наибольший вклад в разницу этих значений вносят несовершенства используемой модели расчёта ширины для растрового электронного микроскопа. Обнаружение множества геометрических параметров выступа ведет к случайному характеру значений ширины, получаемых в модели измерения ширины как единственного параметра. Источником неопределённости является также отсутствие учёта неровностей краёв выступов.

Предложен принцип построения кодовых шкал на основе двоичных последовательностей де Брёйна с минимальной длиной периода. Показано, что на основе таких шкал можно построить цифровые преобразователи угла, имеющие меньшие габаритные размеры, по сравнению с преобразователями на базе шкалы в коде Грея. Разработанные шкалы позволяют создавать преобразователи с выходным кодом 6-12 двоичных разрядов без использования дополнительного интерполятора.

Рассмотрена реконструкция средств измерений линейно-угловых перемещений с использованием мелкопериодических оптических мер, мультипликационных преобразователей сканирующих компенсационных интерполяторов наведения и универсальной системы обработки сигналов.

Описан процесс производства и доказана необходимость технологического контроля пропорциональных электромагнитных приводов. Предложено применять метод главных компонент для контроля вебер-амперных характеристик рабочего цикла электромагнитных приводов. Метод главных компонент позволяет выявить признаки латентных дефектов и одновременно уменьшить размерность исходных данных, исключив малозначимую информацию. Получены экспериментальные результаты исследования вебер-амперных характеристик рабочего цикла электромагнитных приводов с различными дефектами.

Предложена методика определения параметров сглаживающей оконной функции, применяемой в задачах импульсной спектроскопии. Методика основана на привязке окна к спектральному и энергетическому центрам импульсного сигнала, который находится на спектрограмме.

Представлены результаты экспериментальных исследований коэффициента отражения радиопоглощающих материалов при зондировании сверхкороткими электромагнитными импульсами (с использованием методов сверхширокополосной импульсной спектроскопии в микроволновом диапазоне). Проведено сравнение результатов измерений коэффициента отражения традиционными узко- и сверхширокополосными методами.