Дан обзор различных оптоэлектронных приборов для линейных измерений. Рассмотрены их конструкция и метрологические характеристики.

С использованием меры МШПС-2.0К установлены среднесрочные стабильности хранения и воспроизводимости определяемого при калибровке масштабного коэффициента растровых электронных микроскопов. Сделаны выводы, что зависимость масштабного коэффициента от рабочего расстояния может приводить к разбросу результатов измерений, и для повышения точности измерений требуется прямое сравнение размеров измеряемого и эталонного объектов, полученных при одних и тех же параметрах микроскопа.

Рассмотрены основные проблемы, возникающие при разработке неохлаждаемых датчиков динамических давлений, и основные пути их решения. Приведена конструкция датчика, реализующая компенсацию погрешности из-за изменения температуры.

Приведен краткий обзор методов построения образующих различных типов сопел и входных конфузоров. На основании методов вариационного исчисления предложен способ построения профиля, обеспечивающего минимум потерь на трение и вихреобразование.

Проведен анализ погрешности измерений максимальной магнитной проницаемости сталей по стандартной методике, обусловленной дискретным изменением амплитуды намагничивающего поля на основной кривой намагничивания по индукции. Показано, что трудоемкость этих измерений может быть снижена при использовании формулы для расчета поля, при котором магнитная проницаемость стали максимальна.