Определение нелинейности емкостных датчиков по оси Z атомно-силового микроскопа
Abstract
About the Authors
А. ЗаблоцкийRussian Federation
В. Шаронов
Russian Federation
В. Бормашов
Russian Federation
А. Батурин
Russian Federation
П. Тодуа
Russian Federation
References
1. Binning G., Quate C. F., Gerber Ch. //Phys. Rev. Lett. 1986. V. 56. P. 930.
2. Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Н. Новгород: Изд-во ИФМ РАН, 2004.
3. Дедкова Е. Г. и др. Приборы и методы зондовой микроскопии. М.: Изд-во Можайский полиграфический комбинат, 2011.
4. Новиков Ю. А., Раков А. В., Тодуа П. А. Калибровка атомно-силовых микроскопов //Известия РАН. Сер. физическая. 2009. Т. 73. № 4. С. 473 – 484.
5. ГОСТ Р 8.635–2007. ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки.
6. Suzuki M. Standardized procedure for calibrating height scales in atomic force microscopy on the order of 1 nm // J. Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 1996. V. 14. N I13. P. 1228 – 1232.
7. Новиков Ю. А. и др. Линейная мера микрометрового и нанометрового диапазонов для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии // Труды ИОФАН. 2006. T. 62. С. 36 – 76.
Review
For citations:
, , , , . Metrologiya. 2013;(3):18-21. (In Russ.)