Preview

Metrologiya

Advanced search

Составляющие вторичного рентгеновского спектра при полихроматическом возбуждении и энергодисперсионной регистрации

Abstract

It is shown that the composition of secondary X-ray radiation spectra received in X-ray fluorescence capillary optics spectrometers contains the peaks caused by the diffraction of continuous primary spectrum on the sample substance. These peaks can be a source of systematic errors at quantitative analysis and a reason of false determination of elements at qualitative analysis.

About the Authors

А. Заблоцкий
Московский физико-технический институт
Russian Federation


А. Вирюс
Институт экспериментальной минералогии РАН
Russian Federation


О. Лямина
Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова
Russian Federation


А. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation


Т. Куприянова
Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова
Russian Federation


П. Тодуа
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation


М. Филиппов
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation


References

1. Erko A. e. a. Modern Developments in X-ray and Neutron Optics /Ed. Springer-Verlag. Berlin, Heidelberg, New-York, 2008

2. Филиппов М. Н. и др. Новые рентгеноспектральные и масс-спектральные методы химического анализа и диагностики веществ и материалов //Современные проблемы общей и неорганической химии. М.: Наука, 2009. С. 402 – 420.


Review

For citations:


 ,  ,  ,  ,  ,  ,   . Metrologiya. 2013;(4):9-15. (In Russ.)

Views: 45


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 0132-4713 (Print)
ISSN 2712-9071 (Online)