Составляющие вторичного рентгеновского спектра при полихроматическом возбуждении и энергодисперсионной регистрации
Abstract
It is shown that the composition of secondary X-ray radiation spectra received in X-ray fluorescence capillary optics spectrometers contains the peaks caused by the diffraction of continuous primary spectrum on the sample substance. These peaks can be a source of systematic errors at quantitative analysis and a reason of false determination of elements at qualitative analysis.
About the Authors
А. Заблоцкий
Московский физико-технический институт
Russian Federation
А. Вирюс
Институт экспериментальной минералогии РАН
Russian Federation
О. Лямина
Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова
Russian Federation
А. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
Т. Куприянова
Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова
Russian Federation
П. Тодуа
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
М. Филиппов
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
References
1. Erko A. e. a. Modern Developments in X-ray and Neutron Optics /Ed. Springer-Verlag. Berlin, Heidelberg, New-York, 2008
2. Филиппов М. Н. и др. Новые рентгеноспектральные и масс-спектральные методы химического анализа и диагностики веществ и материалов //Современные проблемы общей и неорганической химии. М.: Наука, 2009. С. 402 – 420.
For citations:
,
,
,
,
,
,
. Metrologiya. 2013;(4):9-15.
(In Russ.)
Views:
45