

Оптимизация точности измерений в исследовательских задачах
Аннотация
Об авторах
А. П. ЛапсарьРоссия
С. В. Кочнев
Россия
Список литературы
1. ГОСТ Р 51672-2000. Метрологическое обеспечение испытаний продукции для целей подтверждения соответствия.
2. Литвинов В. Г. Метрологическое обеспечение измерительного контроля. М.: ВАД, 1985.
3. Назаров Н. Г. Метрология. Основные понятия и математические модели. М.: Высшая школа, 2002.
4. Вентцель Е. С. Теория вероятностей. М.: Высшая школа, 1998.
5. Вентцель Е. С., Овчаров Л. А. Теория случайных процессов и ее инженерные приложения. М.: Академия, 2003.
Рецензия
Для цитирования:
Лапсарь А.П., Кочнев С.В. Оптимизация точности измерений в исследовательских задачах. Метрология. 2014;(6):3-12.