Термины и их разночтения

Предложены пути решения или принятия соглашений о необходимости использования общих терминов для специалистов из смежных областей физики, где наблюдаются путаница и разночтения. Рассмотрены также такие термины, как измерение , экспериментальная и инструментальная погрешности , прямые и косвенные измерения . Доказано, что для косвенных измерений инструментальная погрешность зависит от модели исследуемой системы. Правомерность доказанной зависимости, предложенных нововведений и особенности косвенных измерений обоснованы на конкретных примерах, взятых, в частности, из эллипсо- и поляриметрии.

терминология, метрология, прямые и косвенные измерения, эллипсометрия, поляриметрия, инструментальная погрешность, экспериментальная погрешность, методическая погрешность, показатель преломления, terminology, metrology, direct and indirect measurements, definition, ellipsometry, polarimetry, instrumental error, experimental error, methodical error, refraction index

1. Секацкий В. С., Мерзликина Н. В. Методы и средства измерений и контроля: Учеб. пособие. Красноярск: ИПЦ СФУ, 2007.

2. Сергеев А. Г., Крохин В. В. Метрология. М.: Логос, 2001.

3. Хасанов Т. Х. Терминология поляризационной оптики // Фундаментальные проблемы современного материаловедения. 2012. Т. 9 № 1. С. 39-45.

4. Ковалевская Т. В., Овсюк В. Н., Белоконев В. М., Дегтярев Е. В. Фотоника: Словарь терминов / Под ред. В.Н. Овсюка. Новосибирск. Изд-во СО РАН, 2014.

5. РМГ 29-99. Рекомендации по межгосударственной стандартизации.

6. Малыкин Г. Б. Экспериментальная проверка баллистических теорий света в России и СССР // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 116. № 1. С.140-154.

7. Иоффе Б. В. Рефрактометрические методы химии. Л.: Химия, 1983.

8. Хасанов Т.Х. Значения показателей преломления объемного кварца// Оптика и спектроскопия. 2015. Т. 118. Вып. 4. С. 684-692.

9. Хасанов Т. Х. Об использовании измерительных зон в эллипсометрических измерениях // Оптика и спектроскопия. 1988. Т. 64. Вып. 5. С.1087-1094.

10. Аззам Р., Башара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет / Пер. с англ. М.: Мир, 1981.

11. Пшеницын В. И., Абаев М. И., Лызлов Н. Ю. Эллипсометрия в физико-химических исследованиях. Л.: Химия, 1986.

12. Хасанов Т. Х. Измерение оптических постоянных подложек на основе отражения // Фундаментальные проблемы современного материаловедения. 2011. Т. 8. С. 62-71.

13. Хасанов Т. Х. Аттестация и средства контроля эллипсометров // Автометрия. 1997. Вып.1. С. 81-94.

14. Ржанов А. В., Свиташев К. К, Семененко Л. В., Семененко А. И., Соколов В. К. Основы эллипсометрии. Новосибирск: Наука, 1979.

15. Mutilin S. V., Khasanov T. The Refractive Index of Homogeneous SiO Thin Films // Optics and Spectroscopy. 2008. V. 105. N. 3. P. 461-465.

16. Geiduk A. E., Khasanov T. K. Optical anisotropy in research of nanolayers // IEEE. 2nd Russia School and Seminar on Fundamental Problems of Micro/Nanosystems Technologies. 2010. P. 48-52.

17. Хасанов Т. Х. Особенности сочетания поляриметрии и эллипсометрии // Фундаментальные проблемы современного материаловедения. 2013. Т. 10. № 4. С. 572-579.