Generate QR code
Open Access
Subscription Access
Анализ и синтез методов измерения S-параметров сверхвысокочастотных транзисторов
https://doi.org/10.32446/0132-4713.2018-4-51-63
Abstract
In the article in chronological order are considered: two-signal method of measurement of S-parameters of transistors, modification of this method and, developed on their basis, the method of adequate measurement of S-parameters of such devices. The uncertainty of the last two methods for measuring -parameters is eliminated. Methods are implemented by the simulator-analyzer amplifiers and oscillators microwave, as agreed, and mismatched with loads of measuring channels this simulator analyzer. The scope and interrelation of the considered methods with indication of their advantages and disadvantages are analyzed.
Keywords
методы измерения S-параметров пассивных и активных четырёхполюсников,
матрица S-параметров,
связь элементов матрицы,
адекватное измерение,
methods of measurement of S-parameters of passive and active two-ports,
matrix of S-parameters,
communication of elements of the matrix of S-parameters,
adequate measurement
About the Authors
С. Савелькаев
Сибирский государственный университет геосистем и технологий
Russian Federation
Russian Federation
В. Литовченко
Сибирский государственный университет геосистем и технологий
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Mazumder S. R. Two-signal parameters of transistors // IEEE Trans. 1978. V. MTT-26. No. 6. P. 417-420.
2. Li S. H., Bosisio R. G. Automatic analysis of two-port active microwave network // Electronics Letters. 1982. V. 18. No 24. P. 1033-1034.
3. Савелькаев С. В., Ромасько С. В. Способ измерения S-параметров четырехполюсников, предназначенных для включения в микрополосковый тракт // Вестник СГУГиТ. 2017. Т. 22. № 2.С. 260 -270.
4. Савелькаев С. В., Ромасько С. В. Метод измерения S-параметров транзисторов на имитаторе-анализаторе усилителей и автогенераторов // Метрология. 2017. №2. С. 19-28.
5. Zu N. H. Phase uncertainty in calibration microwave test fixtures network // IEEE Trans. 1999. V. MTT-47. No. 10. P. 1917-1922.
6. Heuermann H., Schiek B. Line network network (LNN): at alternative in-fixture calibrating procedure // IEEE Trans. 1997. V. MTT-45. No. 3. P. 40-413.
7. Силаев М. А., Брянцев С. Ф. Приложение матриц и графов к анализу СВЧ устройств. М.: Советское радио, 1970.
Review
For citations:
, . Metrologiya. 2018;(4):51-63. (In Russ.) https://doi.org/10.32446/0132-4713.2018-4-51-63
Views:
213
