сгенерировать QR код
Открытый доступ
Только для подписчиков
Анализ и синтез методов измерения S-параметров сверхвысокочастотных транзисторов
https://doi.org/10.32446/0132-4713.2018-4-51-63
Аннотация
Рассмотрены двухсигнальный и модифицированный двухсигнальный методы измерения S -параметров транзисторов, а также разработанный на их основе метод адекватного измерения. Устранена неопределённость последних двух методов. Методы реализуются с использованием имитатора-анализатора усилителей и сверхвысокочастотных автогенераторов в согласованных и рассогласованных с нагрузками измерительных каналах имитатора-анализатора. Исследованы область применения и взаимосвязь рассматриваемых методов с указанием их преимуществ и недостатков.
Ключевые слова
методы измерения S-параметров пассивных и активных четырёхполюсников,
матрица S-параметров,
связь элементов матрицы,
адекватное измерение,
methods of measurement of S-parameters of passive and active two-ports,
matrix of S-parameters,
communication of elements of the matrix of S-parameters,
adequate measurement
Об авторах
С. В. Савелькаев
Сибирский государственный университет геосистем и технологий
Россия
Россия
В. А. Литовченко
Сибирский государственный университет геосистем и технологий
Россия
Россия
Список литературы
1. Mazumder S. R. Two-signal parameters of transistors // IEEE Trans. 1978. V. MTT-26. No. 6. P. 417-420.
2. Li S. H., Bosisio R. G. Automatic analysis of two-port active microwave network // Electronics Letters. 1982. V. 18. No 24. P. 1033-1034.
3. Савелькаев С. В., Ромасько С. В. Способ измерения S-параметров четырехполюсников, предназначенных для включения в микрополосковый тракт // Вестник СГУГиТ. 2017. Т. 22. № 2.С. 260 -270.
4. Савелькаев С. В., Ромасько С. В. Метод измерения S-параметров транзисторов на имитаторе-анализаторе усилителей и автогенераторов // Метрология. 2017. №2. С. 19-28.
5. Zu N. H. Phase uncertainty in calibration microwave test fixtures network // IEEE Trans. 1999. V. MTT-47. No. 10. P. 1917-1922.
6. Heuermann H., Schiek B. Line network network (LNN): at alternative in-fixture calibrating procedure // IEEE Trans. 1997. V. MTT-45. No. 3. P. 40-413.
7. Силаев М. А., Брянцев С. Ф. Приложение матриц и графов к анализу СВЧ устройств. М.: Советское радио, 1970.
Рецензия
Для цитирования:
Савелькаев С.В., Литовченко В.А. Анализ и синтез методов измерения S-параметров сверхвысокочастотных транзисторов. Метрология. 2018;(4):51-63. https://doi.org/10.32446/0132-4713.2018-4-51-63
Просмотров:
211
