Оценка неопределенности измерений межплоскостных расстояний в монокристаллическом кремнии с использованием лабораторного рентгеновского дифрактометра
Аннотация
Об авторах
В. П. ГавриленкоРоссия
М. А. Ермакова
Россия
А. В. Заблоцкий
Россия
А. Ю. Кузин
Россия
П. А. Тодуа
Россия
М. Н. Филиппов
Россия
Список литературы
1. Бодунов Д. С. И др. Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов // Измерительная техника. 2012. № 10. С. 16–18; Bodunov D. S. e. a. Standard sample for calibration of transmission electron microscopes nanometrology // Measurement Techniques. 2013. V. 55. N 10. P. 1137–1140.
2. P. F. Fewster. Absolute lattice parameter measurement // J. Mat. Sci. 1999. V. 10. P. 175–183.
3. Bonse U., Hart M. An X-Ray interferometer //Appl. Phys. Lett. 1965. V. 6. P. 155–156.
4. ГССД 252-2011. Энергия характеристического рентгеновского излучения при переходах в электронных оболочках атомов химических элементов с атомным номером от 4 до 100. Таблица стандартных справочных данных.
5. Becker P. History and progress in the accurate determination of the Avogadro constant // Rep. Prog. Phys. 2001. V. 64. P. 1945–2008.
Рецензия
Для цитирования:
Гавриленко В.П., Ермакова М.А., Заблоцкий А.В., Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Филиппов М.Н. Оценка неопределенности измерений межплоскостных расстояний в монокристаллическом кремнии с использованием лабораторного рентгеновского дифрактометра. Метрология. 2013;(10):26-31.