<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">metrol</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Метрология</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Metrologiya</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0132-4713</issn><issn pub-type="epub">2712-9071</issn><publisher><publisher-name>ВНИИМС</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">metrol-342</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>МЕХАНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Состояние и перспективы создания полупроводниковых микроэлектромеханических систем и датчиков давления на их основе</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Васильев</surname><given-names>В. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">opto@bk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Москалев</surname><given-names>С. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ползунов</surname><given-names>И. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шокоров</surname><given-names>В. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Пензенский государственный университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>ОАО "НИИ физических измерений"</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>11</issue><fpage>15</fpage><lpage>24</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ВНИИМС, 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ВНИИМС</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ВНИИМС</copyright-holder><license xlink:href="https://metrol.elpub.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://metrol.elpub.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://metrol.elpub.ru/jour/article/view/342">https://metrol.elpub.ru/jour/article/view/342</self-uri><abstract><p>Проанализированы современное состояние и перспективы создания датчиков давления на базе полупроводниковых микроэлектромеханических систем в России и за рубежом. Рассмотрены конструктивные особенности и основные параметры современных датчиков давления. Определены тенденции и направления их совершенствования.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The analysis of the current state and prospects for the creation of semiconductor microelectromechanical systems pressure sensors in Russia and abroad. Main parameters and characteristics of contemporary pressure sensors defined. Tendencies and directions of improvement of sensors based on these systems are defined.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>микроэлектромеханическая система</kwd><kwd>датчик давления</kwd><kwd>microelectromechanical systems</kwd><kwd>pressure sensor</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Белозубов Е. М. и др. Датчики давления в России и за рубежом // Метрология. 2010. № 10. С. 15-24.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Белозубов Е. М. и др. Датчики давления в России и за рубежом // Метрология. 2010. № 10. С. 15-24.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 15467-79 Управление качеством продукции. Основные понятия. Термины и определения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 15467-79 Управление качеством продукции. Основные понятия. Термины и определения.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гусаров В. В. Тенденции в совершенствовании программ и методик испытаний датчиков давления // Мир измерений. 2002. № 7-8. С. 23-27.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гусаров В. В. Тенденции в совершенствовании программ и методик испытаний датчиков давления // Мир измерений. 2002. № 7-8. С. 23-27.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Маргелов А. Датчики давления компании Honeywell // Chip News. 2005. № 7 (100). C. 11-12.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Маргелов А. Датчики давления компании Honeywell // Chip News. 2005. № 7 (100). C. 11-12.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кривченко Т. П., Чепурин И. Н. Полупроводниковые датчики компании Моторола // Современная электроника. 2003. № 3. С. 34-38.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кривченко Т. П., Чепурин И. Н. Полупроводниковые датчики компании Моторола // Современная электроника. 2003. № 3. С. 34-38.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Каталог ОАО «НИИФИ». Датчики, преобразователи, системы. (Электрон. ресурс). http://www.niifi.ru/Pdfs/Catalogue_2011.pdf (дата обращения 25.06.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Каталог ОАО «НИИФИ». Датчики, преобразователи, системы. (Электрон. ресурс). http://www.niifi.ru/Pdfs/Catalogue_2011.pdf (дата обращения 25.06.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Баринов И. и др. Микроэлектронные датчики физических величин на основе МЭМС-технологий // Компоненты и технологии. 2010. № 1. С. 24-27.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Баринов И. и др. Микроэлектронные датчики физических величин на основе МЭМС-технологий // Компоненты и технологии. 2010. № 1. С. 24-27.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лурье Г. И. Датчики давления для общепромышленного применения. Ч. 1. (Электрон. ресурс). http://www.manometr.com/lematt/r174-1.pdf (дата обращения 25.06.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лурье Г. И. Датчики давления для общепромышленного применения. Ч. 1. (Электрон. ресурс). http://www.manometr.com/lematt/r174-1.pdf (дата обращения 25.06.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kurtz A. D., Ned A. A., Epstein A. H. Ultra High Temperature, Miniature, SOI Sensors for Extreme Environments // IMAPS Int. HiTEC 2004 Conf. Santa Fe, New Mexico, May 17-20, 2004.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kurtz A. D., Ned A. A., Epstein A. H. Ultra High Temperature, Miniature, SOI Sensors for Extreme Environments // IMAPS Int. HiTEC 2004 Conf. Santa Fe, New Mexico, May 17-20, 2004.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зацерклянный О. В. Интеллектуальные датчики давления с элементами диагностики и управления // Датчики и системы. 2008. № 11. С. 19-23.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зацерклянный О. В. Интеллектуальные датчики давления с элементами диагностики и управления // Датчики и системы. 2008. № 11. С. 19-23.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Преобразователи давления с нормированным сигналом. (Электрон. ресурс). http://www.oooproma.ru/3.html (дата обращения: 25.06.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Преобразователи давления с нормированным сигналом. (Электрон. ресурс). http://www.oooproma.ru/3.html (дата обращения: 25.06.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Minebea Core Technology. Measuring Components. (Электрон. ресурс). http://www.minebea-mcd.com (дата обращения: 26.06.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Minebea Core Technology. Measuring Components. (Электрон. ресурс). http://www.minebea-mcd.com (дата обращения: 26.06.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Стучебников В. М. Измерение давления высокотемпературных сред // Тезисы докл. IX Междунар. науч.-техн. семинара. СПб, ВНИИМ, 2004. С. 54-56.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Стучебников В. М. Измерение давления высокотемпературных сред // Тезисы докл. IX Междунар. науч.-техн. семинара. СПб, ВНИИМ, 2004. С. 54-56.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Руководство по эксплуатации тензопреобразователей «кремний на сапфире»; тензопреобразователи силы (серия С) и давления (серия Д). (Электрон. ресурс). http://www.zaovip.ru/ (дата обращения: 26.06.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Руководство по эксплуатации тензопреобразователей «кремний на сапфире»; тензопреобразователи силы (серия С) и давления (серия Д). (Электрон. ресурс). http://www.zaovip.ru/ (дата обращения: 26.06.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пат. 2430342 РФ. Полупроводниковый датчик давления с частотным выходным сигналом / В. А. Васильев, Н. В. Громков, С. А. Москалев // Изобретения. Полезные модели. 2011. № 27.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пат. 2430342 РФ. Полупроводниковый датчик давления с частотным выходным сигналом / В. А. Васильев, Н. В. Громков, С. А. Москалев // Изобретения. Полезные модели. 2011. № 27.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пат. 2451270 РФ. Полупроводниковый датчик давления повышенной точности / В. А. Васильев, Н. В. Громков, С. А. Москалев // Изобретения. Полезные модели. 2012. № 14.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пат. 2451270 РФ. Полупроводниковый датчик давления повышенной точности / В. А. Васильев, Н. В. Громков, С. А. Москалев // Изобретения. Полезные модели. 2012. № 14.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Громков Н. В. Математическая модель и анализ влияния собственных шумов элементов схемы корректирующего канала на выходной сигнал измерительных преобразователей // Изв. высш. учеб. заведений. Поволжский регион. Технические науки. 2007. № 4. С. 152-165.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Громков Н. В. Математическая модель и анализ влияния собственных шумов элементов схемы корректирующего канала на выходной сигнал измерительных преобразователей // Изв. высш. учеб. заведений. Поволжский регион. Технические науки. 2007. № 4. С. 152-165.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Карман А. Н. и др. Датчики и переключатели давления // Журнал ПиКАД. 2004. № 2. С. 14-15.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Карман А. Н. и др. Датчики и переключатели давления // Журнал ПиКАД. 2004. № 2. С. 14-15.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Корляков А. В. Физико-технологические основы формирования базовых элементов микросистемной техники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. докт. техн. наук. СПб., 2010.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Корляков А. В. Физико-технологические основы формирования базовых элементов микросистемной техники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. докт. техн. наук. СПб., 2010.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Баринов И. Н. Высокотемпературные тензорезистивные датчики давлений на основе карбида кремния. Состояние разработок и тенденции развития // Компоненты и технологии. 2010. № 8. С. 64-71.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Баринов И. Н. Высокотемпературные тензорезистивные датчики давлений на основе карбида кремния. Состояние разработок и тенденции развития // Компоненты и технологии. 2010. № 8. С. 64-71.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ned A. A. е. а. Improved SiC Leadless Pressure Sensors For High Temperature, Low and High Pressure Applications // Twenty-First Transducer Workshop Lexington (Maryland), 2004.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ned A. A. е. а. Improved SiC Leadless Pressure Sensors For High Temperature, Low and High Pressure Applications // Twenty-First Transducer Workshop Lexington (Maryland), 2004.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
