<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">metrol</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Метрология</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Metrologiya</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0132-4713</issn><issn pub-type="epub">2712-9071</issn><publisher><publisher-name>ВНИИМС</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">metrol-254</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Определение нелинейности емкостных датчиков по оси Z атомно-силового микроскопа</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Заблоцкий</surname><given-names>А. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">fgupnicpv@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шаронов</surname><given-names>В. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бормашов</surname><given-names>В. С.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Батурин</surname><given-names>А. С.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Тодуа</surname><given-names>П. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума, Москва</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Московский физико-технический институт, Долгопрудный</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2013</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>3</issue><fpage>18</fpage><lpage>21</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ВНИИМС, 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ВНИИМС</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ВНИИМС</copyright-holder><license xlink:href="https://metrol.elpub.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://metrol.elpub.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://metrol.elpub.ru/jour/article/view/254">https://metrol.elpub.ru/jour/article/view/254</self-uri><abstract><p>Исследована нелинейность емкостных датчиков по оси Z атомно-силового микроскопа с использованием тестовых структур, содержащих элементы рельефа высотой 300 – 1200 нм. Установлена зависимость измеряемых итоговых измерений высоты от величины перемещения трубчатого пьезосканера в диапазоне 10 – 90 % от максимально возможного значения. Выявлено, что нелинейность емкостных датчиков перемещений в направлении, перпендикулярном к исследуемой поверхности составляет 1,5 – 3 %.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The nonlinearity of capacity sensors along the Z -axis of atomic force microscope was studied using test structures with relief elements of a height of 300 – 1200 nm. The dependence of height measurements results from tubular piezo-scanner displacement value is established in the range of 10 – 90 % of maximum displacement. It was revealed that the nonlinearity of capacity displacement sensors is 1,5 – 3 % normal to the investigated surface direction.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>атомно-силовой микроскоп</kwd><kwd>емкостные датчики</kwd><kwd>калибровка</kwd><kwd>atomic force microscope</kwd><kwd>capacity sensors</kwd><kwd>calibration</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Binning G., Quate C. F., Gerber Ch. //Phys. Rev. Lett. 1986. V. 56. P. 930.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Binning G., Quate C. F., Gerber Ch. //Phys. Rev. Lett. 1986. V. 56. P. 930.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Н. Новгород: Изд-во ИФМ РАН, 2004.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Н. Новгород: Изд-во ИФМ РАН, 2004.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дедкова Е. Г. и др. Приборы и методы зондовой микроскопии. М.: Изд-во Можайский полиграфический комбинат, 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Дедкова Е. Г. и др. Приборы и методы зондовой микроскопии. М.: Изд-во Можайский полиграфический комбинат, 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Новиков Ю. А., Раков А. В., Тодуа П. А. Калибровка атомно-силовых микроскопов //Известия РАН. Сер. физическая. 2009. Т. 73. № 4. С. 473 – 484.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Новиков Ю. А., Раков А. В., Тодуа П. А. Калибровка атомно-силовых микроскопов //Известия РАН. Сер. физическая. 2009. Т. 73. № 4. С. 473 – 484.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р 8.635–2007. ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р 8.635–2007. ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Suzuki M. Standardized procedure for calibrating height scales in atomic force microscopy on the order of 1 nm // J. Vacuum Science &amp; Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 1996. V. 14. N I13. P. 1228 – 1232.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Suzuki M. Standardized procedure for calibrating height scales in atomic force microscopy on the order of 1 nm // J. Vacuum Science &amp; Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 1996. V. 14. N I13. P. 1228 – 1232.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Новиков Ю. А. и др. Линейная мера микрометрового и нанометрового диапазонов для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии // Труды ИОФАН. 2006. T. 62. С. 36 – 76.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Новиков Ю. А. и др. Линейная мера микрометрового и нанометрового диапазонов для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии // Труды ИОФАН. 2006. T. 62. С. 36 – 76.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
