<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">metrol</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Метрология</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Metrologiya</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0132-4713</issn><issn pub-type="epub">2712-9071</issn><publisher><publisher-name>ВНИИМС</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">metrol-191</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОБЩИЕ ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИИ И ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Косвенные измерения при различном нормировании пределов допускаемых погрешностей технических средств</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Диденко</surname><given-names>В. И.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">didenkovi@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>4</issue><fpage>3</fpage><lpage>14</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ВНИИМС, 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ВНИИМС</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ВНИИМС</copyright-holder><license xlink:href="https://metrol.elpub.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://metrol.elpub.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://metrol.elpub.ru/jour/article/view/191">https://metrol.elpub.ru/jour/article/view/191</self-uri><abstract><p>Предложен обобщённый метод оценки неопределённости косвенных измерений. Показано, как от нормирования предела допускаемой погрешности средства измерений при известной нелинейности перейти к пределам допускаемых аддитивной и мультипликативной погрешностей. Даны примеры снижения неопределённости косвенных измерений в результате правильного выбора структурной схемы, пределов измерений и способов нормирования.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The general method for evaluating the uncertainty of indirect measurements is proposed. It is shown how to find offset and gain errors using the maximum error and the nonlinearity of a measuring instrument. Examples of decreasing the uncertainty of indirect measurements due to the correct choices of architectures, measurement ranges and the methods of rationing are given.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>косвенные измерения</kwd><kwd>интегральная микросхема</kwd><kwd>неопределённость</kwd><kwd>indirect measurements</kwd><kwd>integrated circuit</kwd><kwd>uncertainty</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">РМГ 29-2013. ГСИ. Метрология. Основные термины и определения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">РМГ 29-2013. ГСИ. Метрология. Основные термины и определения.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">МИ 2083-90. ГСИ. Измерения косвенные. Определение результатов измерений и оценивание их погрешностей.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">МИ 2083-90. ГСИ. Измерения косвенные. Определение результатов измерений и оценивание их погрешностей.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Attivissimo F. Giaquinto N., Savino M. Worst-case uncertainty measurement in ADC-based instruments // Computer Standards &amp; Interfaces. 2007. No. 29. P. 5-10.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Attivissimo F. Giaquinto N., Savino M. Worst-case uncertainty measurement in ADC-based instruments // Computer Standards &amp; Interfaces. 2007. No. 29. P. 5-10.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Didenko V. Improved evaluation of uncertainty for indirect measurement // Acta IMEKO. 2017. V. 6. No. 2. P. 89-92.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Didenko V. Improved evaluation of uncertainty for indirect measurement // Acta IMEKO. 2017. V. 6. No. 2. P. 89-92.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 8.401-80. ГСИ. Классы точности средств измерений. Общие требования.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 8.401-80. ГСИ. Классы точности средств измерений. Общие требования.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 8.009-84. ГСИ. Нормируемые метрологические характеристики средств измерений.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 8.009-84. ГСИ. Нормируемые метрологические характеристики средств измерений.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ПМГ 96-2009. ГСИ. Результаты и характеристики качества измерений. Формы представлений.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ПМГ 96-2009. ГСИ. Результаты и характеристики качества измерений. Формы представлений.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
