Показано, что в составе спектров вторичного рентгеновского излучения, получаемых в рентгенофлуоресцентных спектрометрах с капиллярной оптикой, содержатся пики, обусловленные дифракцией непрерывного первичного спектра на веществе пробы и являющиеся источником систематических погрешностей и причиной ложного определения элементов при количественном и качественном анализах.
It is shown that the composition of secondary X-ray radiation spectra received in X-ray fluorescence capillary optics spectrometers contains the peaks caused by the diffraction of continuous primary spectrum on the sample substance. These peaks can be a source of systematic errors at quantitative analysis and a reason of false determination of elements at qualitative analysis.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.